方位錨定能測量裝置對于取向材料的研發(fā)是必不可少的，它可以在單個(gè)扭曲向列相液晶盒中高效、精確地控制取向?qū)拥姆轿缓蜆O向錨定能。
該裝置可進(jìn)行扭曲向列相液晶盒中液晶扭曲角的自動測量及其方位錨定能的計(jì)算[V. A. Konovalov, A. A. Muravski, S. Ye.Yakovenko, J. Pelzl, An Accurate Spectral Method for Measuring Twist Angle of Twisted Cells with Rubbed and Grooved Surfaces, SID Symp. Dig. Tech. Pap. 31, 1, pp. 620-623 (2000)]。
主要技術(shù)特點(diǎn)
方位錨定能的自動測量
方位錨定能測量裝置軟件會自動執(zhí)行一系列的計(jì)算機(jī)操作，包括液晶盒和光譜測量儀的樣品臺旋轉(zhuǎn)以及分析儀和光譜測量儀的旋轉(zhuǎn)。所有測量均在液晶樣品的選定區(qū)域內(nèi)自動進(jìn)行，無需人工干預(yù)。自動數(shù)據(jù)采集及其對液晶盒旋轉(zhuǎn)模型的計(jì)算機(jī)分析提供了液晶扭曲角φt的測定，并計(jì)算了方位錨定能常數(shù)Aφ。
測量參數(shù)*
*通過基于帶電氣控制的偏光顯微鏡MICRO-200Т-01（選項(xiàng)1）和高速光學(xué)輪廓儀（選項(xiàng)2）的方位錨定能測量裝置實(shí)現(xiàn)。
選項(xiàng)1 –電氣控制
極向錨定能的測量
方法A：反射與電壓（電光方式）
在扭曲向列相液晶盒中，在各種施加電壓下的預(yù)傾角測量用于確定極向錨定 [A. Murauski, V. Chigrinov, H-S. Kwok, New method for measuring polar anchoring energy of nematic liquid crystals, Liq. Cryst. 36 (8), 779-786 (2009)]。
方法B：延遲與電壓（電光方式）
將VA 液晶盒中各種施加電壓下的相位延遲測量用于極向錨定測定[X. Nie, Y.H. Lin, T.X. Wu, H.Wang, Z.Ge, S.T. Wu, Polar anchoring energy measurement of vertically aligned liquid-crystal cells, J. Appl. Phys. 98, 013516 (2005)]。
方法C：電容與電壓（電氣方式）
在ECB和VA 液晶盒中，在各種施加電壓下的同時(shí)測量電容，用于極向錨定測定[A. Murauski, V. Chigrinov, A.Murasky, F.S.-Y. Yeung, J. Ho, H-S. Kwok, Determination of liquid-crystal polar anchoring energy by electrical measurements, Phys. Rev. E 71, 061707 (2005)]. Polar anchoring coefficient can be defined without using the LC materials parameters (elastic and dielectric constants)。
額外的電氣特性
選項(xiàng)2 –高速光學(xué)輪廓儀
基于在透射或反射模式下的平行多通道干涉光譜測量，可以使用自動測量裝置，用于在玻璃或硅基板上厚度范圍從10 nm到20+μm的薄膜涂層的微米，亞微米和納米級厚度測量，加快數(shù)據(jù)分析和表面輪廓處理。
非常適合液晶透鏡，液晶透鏡陣列等的相位分布分析。
光學(xué)輪廓儀的附加特性
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